Významné výsledky s mezinárodními ohlasy
DOCENDO DISCIMUS
Katedra elektrotechniky
Významné výsledky s mezinárodními ohlasy
ContentLeft
ContentLeft_user
ContentMiddle
Tento komplexní návrhový systém je využíván na řadě vysokých a středních škol u nás i v zahraničí, zejména ve Francii.
Unikátní program pro analýzu lineárních obvodů, jehož jádro tvoří původní algoritmy pro symbolickou analýzu. Vyvinut ve spolupráci s VUT v Brně. Program je využíván v desítkách licencí u nás i v zahraničí, např. firmou MOTOROLA Plantation-Florida, King Mongkut's University of Technology Thonburi v Bangkoku, ISEP Paris atd. Po uvolnění licenčních podmínek se program rychle rozšířil do dalších zemí světa.
Aktivní elektronická součástka, pracující na kvalitativně jiném principu než operační zesilovač. Poprvé publikováno na Evropské konferenci ECCTD v r. 2003. Řada zahraničních ohlasů v publikacích na významných světových konferencích a v impaktovaných časopisech. V roce 2006 vyroben první zkušební čip v CMOS technologii AMIS 0.7um, obsahující dvě dvojice prvků CDTA a CTTA (Current-Through Transconductance Amplifier), optimalizované na rychlost a přesnost.
Simulační software, vyvinutý ve spolupráci s VUT Brno pro zákazníky firmy National Semiconductor, Santa Clara, USA. Program unikátním způsobem koordinuje součinnost programových komponent komerčního simulátoru OrCadPSpice10 s cílem efektivní simulace integrovaného spínaného DC-DC "buck" konvertoru LM2717. Zákazník tak má možnost dopředu si vyzkoušet chování obvodu v jeho konkrétní aplikaci.
Teorie zobecněných přenosových funkcí systémů s periodicky proměnnými parametry, umožňující efektivní modelování jevů v obvodech s externím spínáním. Publikováno v impaktovaném časopisu IEEE Transactions on Circuits and Systems-I v r. 1997. V současné době dochází k využívání tohoto přístupu pro modelování kmitočtových charakteristik spínaných DC-DC měničů pro kmitočtové pásmo nad Nyquistovým kmitočtem, což žádná jiná dosavadní metoda modelování neumožňuje.
Tato aproximace rozšiřuje množinu klasických aproximací, používaných k praktickému návrhu analogových filtrů, jako jsou například Butterwordova, Čebyševova či Cauerova aproximace. TICFU je aproximace, která kombinuje výhodné vlastnosti inverzní Čebyševovy aproximace a aproximace Feistel-Unbehauenovy. Filtry, navržené na základě aproximace TICFu, se vyznačují výhodným průběhem skupinového zpoždění při zachování dobrých útlumových vlastností. Poprvé publikováno v práci
K. Hájek, J. Sedláček, "The New TICFU Transitional Approximation," Proc. of ECCTD'95, Istanbul, 1995, Vol. 2, pp. 913-916.
Na práci je zaznamenána řada ohlasů, např. zde.
Spolupracujeme s firmou Spectrum-Software, Sunnyvale, California, USA, na vývoji světoznámého programu Micro-Cap. Počínaje verzí 9 jsou do programu začleňovány "naše" nové funkce, jako jsou například modely umožňující analýzu digitálních filtrů, dvojrozměrná přenosová funkce, dvojbranová analýza, implementace maticové algebry, speciální animační mód, editor závislostí, přímá práce se soubory WAV, zlepšení kompatibility s OrCadPSpice, implementace jazyka ICL atd.
Výzkum nové generace mobilních zdrojů elektrické energie s proměnnou rychlostí vznětového motoru za účelem zvýšení úspory paliva a zvýšení účinnosti. Tento komplexní výzkum byl publikován na řadě prestižních konferencí (IEEE SPEEDAM; EPE-PEMC; ICEM; PCIM) s mezinárodními ohlasy. Koncepce nové generace mobilních zdrojů elektrické energie s proměnnou rychlostí vznětového motoru je v současné době zaváděna do praxe.
Byl vyvinut ve spolupráci s Ústavem fyziky FEKT VUT. Na základě rozsáhlých poznatků z oblasti optimálního návrhu speciálních filtrů, generátorů s nízkým zkreslením a nízkošumových měření byl vyvinut unikátní měřič třetí harmonické složky pro prvky s malou impedancí. Měří zkreslení s rozsahem až 160dB. To umožňuje testování spolehlivosti kontaktů a jiných elementů s nízkou impedancí. Byl využit např. pro testování spolehlivosti svarů anod tantalových kondenzátorů apod.
Publikováno v impaktovaném časopise
HÁJEK, K., ŠIKULA, J. Contact Voltage of Third Harmonic Distortion for Contact Reliability Investigation. IEEE Trans. on Components and Packaging Technologies. Vol. 28, Dec. 2005, pp. 717-720. ISSN 1521-3331.
ContentLeftMiddle
ContentLeftDown